在電力電子領域,MOS管(金屬-氧化物半導體場效應晶體管)的開關特性直接決定了系統(tǒng)的效率與可靠性。其中,“快速關斷”作為一項核心需求,其重要性遠超快速開通。這一現(xiàn)象背后,蘊含著半導體物理、電路拓撲與工程應用的深刻關聯(lián)。
MOS管的開關行為本質(zhì)上是柵極電容(Cgs、Cgd)充放電的動態(tài)過程。當驅(qū)動信號施加于柵極時:
開通階段:驅(qū)動電路對Cgs充電,柵極電壓(Vgs)上升至閾值電壓(Vth),形成導電溝道,漏極電流(Id)開始流動。
關斷階段:Cgs放電,Vgs下降至閾值以下,導電溝道消失,Id逐漸歸零。
關鍵差異:
開通時,Cgs充電路徑僅需克服驅(qū)動回路電阻(Rg);而關斷時,Cgs需通過驅(qū)動回路放電,其等效電阻(Rg_discharge)直接影響放電速度。若Rg_discharge過大,關斷時間將顯著延長。
在開關過程中,漏源電壓(Vds)與漏極電流(Id)的交疊區(qū)域會產(chǎn)生開關損耗(P_switch=∫Vds·Id·dt)。關斷損耗的特殊性體現(xiàn)在:
開通時間(t_on=t2+t3)通常為數(shù)十納秒;
關斷時間(t_off=t6+t7)可達數(shù)百納秒,尤其是米勒平臺階段(t7),Vds上升與Id下降的交疊時間更長。
2、米勒平臺效應的放大作用:
在關斷過程中,當Vgs降至米勒平臺電壓(Vgp)時,Cgd(柵漏電容)通過密勒效應被耦合至柵極,形成額外的充電電流,導致Vgs下降速率減緩,進一步延長關斷時間。
在100kHz開關頻率下,某款MOSFET的關斷損耗占比可達總開關損耗的70%以上;若關斷時間縮短50%,整體效率可提升2-3個百分點。
負電壓關斷技術:
在關斷瞬間施加-5V至-10V的負電壓,可加速Cgs放電,縮短t7階段。實驗表明,負電壓驅(qū)動可使關斷時間減少30-50%。
推挽驅(qū)動結構:
采用PMOS+NMOS組成的推挽電路,在關斷時提供低阻放電路徑,等效Rg_discharge可低至1Ω以下,相比單管驅(qū)動效率提升40%。
米勒箝位電路:
在柵極并聯(lián)肖特基二極管+齊納二極管,吸收米勒平臺期間的位移電流,抑制Vgs反彈,典型應用可使t7縮短60%。
低柵極電荷(Qg)設計:
通過優(yōu)化溝道摻雜濃度與氧化層厚度,降低Cgs與Cgd。例如,第三代SiCMOSFET的Qg較硅基器件降低50%以上。
分裂柵結構:
將柵極分為控制柵與屏蔽柵,減少Cgd對開關速度的影響,典型應用可使關斷損耗降低30%。
在開關電源、電機驅(qū)動等高頻應用中,快速關斷的效益被成倍放大:
開關電源(如LLC諧振變換器):
在1MHz開關頻率下,關斷損耗占比超過80%。采用快速關斷技術后,效率可從88%提升至92%,溫升降低15℃。
電動汽車逆變器:
在20kHzPWM調(diào)制下,快速關斷可減少電機電流諧波,降低電磁干擾(EMI),同時延長碳化硅(SiC)MOS模塊的使用壽命。
盡管快速關斷優(yōu)勢顯著,但過度追求速度可能引發(fā)新問題:
電壓過沖(Vds_overshoot):
快速關斷導致di/dt激增,通過雜散電感(Lstray)產(chǎn)生尖峰電壓(Vds_peak=Lstray·di/dt+Vdc)。需通過優(yōu)化PCB布局或增加吸收電路(如RC緩沖器)進行抑制。
電磁干擾(EMI):
高頻開關動作可能輻射噪聲,需結合屏蔽設計與濾波器進行綜合治理。
在驅(qū)動電阻選擇上,開通時采用低阻(Rg_on=2-5Ω)以加速開通,關斷時采用稍高阻(Rg_off=5-10Ω)以抑制振蕩;
在SiCMOS應用中,通過柵極電阻分段控制(開通時Rg1,關斷時Rg2),實現(xiàn)速度與可靠性的最優(yōu)解。
隨著寬禁帶半導體(SiC、GaN)的普及,開關速度已突破納秒級。未來,快速關斷技術將向以下方向發(fā)展:
1、智能驅(qū)動芯片:
集成米勒箝位、負壓生成與溫度補償功能,實現(xiàn)驅(qū)動參數(shù)的自適應調(diào)節(jié)。
2、無源器件革新:
采用低溫共燒陶瓷(LTCC)基板,將雜散電感降低至1nH以下,從根本上抑制電壓過沖。
3、拓撲創(chuàng)新:
結合軟開關技術(如ZVS、ZCS),在理論層面消除開關損耗,推動電力電子系統(tǒng)向“零損耗”目標邁進。
MOS管的快速關斷需求,本質(zhì)上是電力電子系統(tǒng)對效率與功率密度的永恒追求。從驅(qū)動電路的毫秒級優(yōu)化到器件結構的納米級革新,每一項技術突破都在重新定義“快”的邊界。在這場與損耗的賽跑中,工程師們正以物理規(guī)律為畫布,繪制著未來能源轉(zhuǎn)換的藍圖。
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